J.C. Wesley;
P.C. deVries;
N.W. Eidietis;
S.M. Flanagan;
S.P. Gerhardt;
R.S. Granetz;
Y. Gribov;
T.C. Hender;
E.M. Hollman;
A.W. Hyatt;
M.F. Johnson;
Y. Kawano;
M. Lehnen;
J. Lister;
R. Martin;
J. Menard;
G. Pautasso;
C. Reux;
V. Riccardo;
S.A. Sabbagh;
D.P. Schissel;
F. Saint-Laurant;
E.J. Strait;
M. Sugihara;
JET-EFDA contributors;
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T.C. Hender;
J.C. Wesley;
P.C. de Vries;
S.M. Flanagan;
E.D. Fredrickson;
D.A. Gates;
R.S. Granetz;
Y. Gribov;
D.F Howell;
A.W. Hyatt;
M.F. Johnson;
Y. Kawano;
J.B. Lister;
R. Martin;
J.E. Menard;
G. Pautasso;
D.P. Schissel;
E.J. Strait;
M. Sugihara;
JET EFDA contributors;
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M. Sugihara;
V. Lukash;
Y. Kawano;
R. Khayrutdinov;
N. Miki;
A. Mineev;
J. Ohmori;
H. Ohwaki;
D. Humphreys;
A. Hyatt;
V. Riccardo;
D. Whyte;
V. Zhogolev;
P. Barabaschi;
Yu. Gribov;
K. Ioki;
M. Shimada;
JET EFDA Contributors;
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N.W. Eidietis;
S.P. Gerhardt;
R.S Granetz;
Y. Kawano;
M. Lehnen;
G. Pautasso;
V. Riccardo;
R.L. Tanna;
A.J. Thornton;
ITPA Disruption Database Participants;
JET EFDA contributors;
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